部门介绍
产品信息
产品介绍
新品推荐
客户服务
您的位置:
首页
>
产业领域
>
产品信息
>
产品介绍
> 干涉仪系列
干涉仪系列
可高精度地测量光电通信、摄影设备、情报机器等的光学元件面精度的操作简便的干涉仪。
在品质保证用的测定、以及制造现场工程内的检查中可充分发挥威力。
KIF-PU透过波面测定干涉仪
透过波面测定干涉仪KIF-PU是解析光学部品的透过波面像差的干涉仪系统。 特别在光读取头用的生产线中,是最适合评价对物透镜以及准直透镜的透过波面的系统。
KIF-10A- DW 小型LD 干涉仪
低价格的小型LD 干涉仪。最适合用于多种少量的小型镜片的生产现场上的快速品质检查。通过简单操作来进行检查。
KIF-10A-UW小型LD干涉仪
低价格的小型LD干涉仪。手掌大小、操作简便。只要放置被检镜片,便可简单迅速地进行测定。
KIF-202L 小型激光干涉仪
使用在生产制造显微镜·光学拾波等过程中培育的小口径测量技术,开发而来的使用简单小型干涉仪。
在光电通信、摄影设备、情报机器等的光学素子领域,可进行高精度测量。
同时在为保证质量而进行的测量活动以及制造现场内的工位内检测方面发挥着巨大的威力。
KIF-FS10A KIF10A用干涉条纹数值化配套元件
干涉条纹数值化配套元件KIF-FS10A,是指将从干涉仪系统KIF-10A系列的干涉条纹得出的像差数值化显示的系统。
KIF-FSPC/FS2000 干涉条纹解析装置/干涉条纹解析软件
与KIF系列的干涉仪配套安装,可对平面及球面的面精度进行定量测评的干涉条纹解析装置。同时,作为对原有软件功能的追加,使用更加方便的新Windows版本的干涉条纹解析软件FS2000也闪亮登场。