部门介绍
产品信息
产品介绍
新品推荐
客户服务
   您的位置:首页 > 产业领域 > 产品信息 > 产品介绍 > 干涉仪系列

KIF-10A- DW 小型LD 干涉仪
 

低价格的小型LD 干涉仪。最适合用于多种少量的小型镜片的生产现场上的快速品质检查。通过简单操作来进行检查。

最适合用于品种多量少的小型镜片的生产现场上的快速品质检查。(KIF-10A-DW)
   检查不同规格的镜片时不需要使用专用配套夹具,最适合用于品种多数量少的镜片检查,只需将镜片放置其上,如同使用显微镜一样的简单操作,便可轻便迅速地对应品质检查。

主要用途:

  1. 评价镜片研磨面的面精度。
  2. 评价塑料成型件的面精度。
  3. 评价各种小型球面、平面部件的面精度。

SYSTEM DIAGERAM

各参照镜的测量可能范围
图表使用方法
  根据被检物的曲线、凹凸形状、口径在坐标上选定一点,在包含此点的区域里选择一个参照镜。如果包含该点的参照镜头有若干个时,请选择F值大的,这样便可使较大干涉条纹显示在显示器上。
KIF-10A-DW(mm)
参照镜 检查可能曲率半径 检查可能最大口径
FNO 最终R R/D
0.6 8.2 0.67 6.7 113.3 12.4 110*
0.7 11.8 0.78 10.5 109.5 15.1 110*
1.0 20.0 1.07 18.0 102.0 18.6 95.3
1.5 31.5 1.53 30.0 90.0 20.6 58.8
2.0 44.4 2.04 43.0 77.0 21.8 37.7
3.0 69.5 3.05 68.0 52.0 22.8 17.0
6.0 147.1 6.09 146.0 - 24.1 -
  • 可测定的最大曲率半径所表示的是在设定被检物的厚度为零的情况下的数值。
  • 可测定的最大曲率半径是在凹面侧并根据镜片结合夹具形状、干涉仪的设置方向(上置型/下置型)等的机械尺寸以及受台部形状而变化。
  • 可测量最大口径中,带有*记号的数值为受台上可放置的最大口径,FNO 表示光学设计上近轴FNO,实效值用R/D表示。
  • 可检查最小口径以及最小曲率半径根据被检物的形状而异。
  • 相关符号:R:曲率半径、D:直径

采用635nm 波长激光,顺利引入生产线。(在线)
因与目前在斐佐型干涉仪上所使用的632.8mm 激光波长极为相似,干涉条纹的条纹感应度也与其近似。可顺利应用到现有的检查加工工程中。(在线)

品种丰富、种类齐全的参照镜
参照镜采用1英寸的紧凑结构,其种类与KIF-202L系列相比较也毫不逊色。

KIF-10A-DW规格
检查方式 斐佐型干涉方式
口径 Φ25.4mm(1英寸)
倍率 1倍
参照镜面精度 λ/15(球面以及平面)
光源 半导体激光(635nm)2级产品激光输出功率为0.8mw以下。
电源 一次电源AC100~240V 50/60Hz
本体供给电源DC12V
被检物大小 R:+140mm~113mm*、
直径~约110mm
本体外形尺寸 180(W)×230(D) ×440(H)mm
本体重量 约5.2kg
主要选件 3轴受台、2轴受台、小型液晶显示器(2.5型、5.6型)、参照镜、测长机组、减衰过滤器AF、孔径转换器Φ25-Φ6
*最小R以及最小直径因被检物不同而异