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KIF-202L 小型激光干涉仪
 技术规格
 
使用在生产制造显微镜·光学拾波等过程中培育的小口径测量技术，开发而来的使用简单小型干涉仪。
在光电通信、摄影设备、情报机器等的光学素子领域，可进行高精度测量。
同时在为保证质量而进行的测量活动以及制造现场内的工位内检测方面发挥着巨大的威力。
小型·操作简便
　　充分考虑作业现场内的使用环境，占地空间小，方便操作。
可测量倍率（1×、2.5×)
　　测定倍率扩大到2.5×，可简单测量小件物体。与Φ60-Φ15（可选件）的孔径转换器组合匹配使用的话，可最大扩大10倍。（平面测定时）
参照镜片λ/20 高精度
　　因为本社加工技术，参照镜为λ/20高精度镜片。根据客户选择的需要，也可提供λ/30 的产品。
丰富的附属备件群
　　我社准备了丰富的附属备件。如使用干涉条纹解析装置（KIF-FSPC/FS2000)，可进行高精度条纹解析。
主要用途：
  1. 镜片研磨面的面精度的测定。
  2. 塑料成型件的面精度的测定。
  3. 各种金属切削面的面精度的测定。
规格：
测定方法 斐佐型干涉方式
口径 Φ60（使用可选件为Φ6-Φ102）mm
被检物大小 Φ6-Φ102（平面测定时）mm
倍率 1×、2.5×（本体2 段切换）
4×、10×（使用Φ60-Φ15的孔径转换器时）
参照面精度 λ/20（球面以及平面）
光源 He-Ne（632.8nm）激光
电源 AC100V 50/60Hz
本体外形尺寸 220（W）×360（D）×740（H）mm
本体重量 约33kg
标准附属品 9型TV显示器、5轴调整受台
*特殊定单，我社可对应15Omm冲程延长样式。

各参照镜可测量范围（表示KIF-202L标准规格样式时的可测定范围）

图表的使用方法
　　根据被检物的曲率、凹凸形状、口径在坐标上选定一点，在包含此点的区域里选择一个参照条纹。如果包含该点的参照镜头有若干个时，请选择F值较大的，这样便可能将较大的干涉条纹显示在显示器上。

 
参照镜 检查可能曲率半径 检查可能最大口径
FNO 最终R R/D 凸 凹 凸 凹
0.6 16.8 0.65 1~16 1~295 24.6 200
0.7 26.2 0.75 2~26 2~298 34.6 200
1.0 45.5 1.02 2~45 3~283 44.1 200
1.5 75.2 1.51 2~75 2~251 49.7 166.2
2.0 105.0 2.0 2~105 2~220 52.5 110
3.0 163.8 3.0 2~163 2~159 54.3 53
6.0 347.6 6.0 16~347 - 57.8 -

※凹面侧的测定可能曲率半径将会根据定盘的大小、干涉仪的设置方向（纵横）等机械的尺寸、以及线性卡尺、解析装置的安装而不同。
●如必须测定曲率半径在R2以下的场合，我社可以提供更加适合的规格，请与我社联系。

各标准规格参照镜的可测定范围
KIF-202L （标准规格）样式时的测定可能范围（mm）
参照镜 KIF-202L（标准规格样式）
型号 最终R R/D 测定可能曲率半径 测定可能最大口径
干扰条纹扫描机组无 干扰条纹扫描机组有 干扰条纹扫描机组无 干扰条纹扫描机组有
凸 凹 凸 凹 凸 凹 凸 凹
F0.6 16.8 0.65 1~16 1~295 1~16 1~205 24.6 200 24.6 200
F0.7 26.2 0.75 2~26 2~298 2~26 2~208 34.6 200 34.6 200
F1.0 45.5 1.02 2~45 2~283 2~45 2~193 44.1 200 44.1 189.2
F1.5 75.2 1.51 2~75 2~251 2~75 2~161 49.7 166.2 49.7 106.6
F2.0 105.0 2.0 2~105 2~220 2~105 2~130 52.5 110 52.5 65
F3.0 163.8 3.0 2~163 2~159 2~163 2~69 54.3 53 54.3 23
F6.0 347.6 6.0 16~347 - 106~347 - 57.8 - 57.8 -
表示被检物的厚度为零时的数值。
KIF-202LL （长距离：150mm 冲程延长规格）样式时的测定可能范围（mm）
参照镜 KIF-202LL（长距离：150mm 冲程延长规格）
型号 最终R R/D 测定可能曲率半径 测定可能最大口径
干扰条纹扫描机组无 干扰条纹扫描机组有 干扰条纹扫描机组无 干扰条纹扫描机组有
凸 凹 凸 凹 凸 凹 凸 凹
F0.6 16.8 0.65 1~16 1~445 1~16 1~355 24.6 200 24.6 200
F0.7 26.2 0.75 2~26 2~448 2~26 2~358 34.6 200 34.6 200
F1.0 45.5 1.02 2~45 2~433 2~45 2~343 44.1 200 44.1 200
F1.5 75.2 1.51 2~75 2~401 2~75 2~311 49.7 200 49.7 200
F2.0 105.0 2.0 2~105 2~370 2~105 2~280 52.5 185 52.5 140
F3.0 163.8 3.0 2~163 2~309 2~163 2~219 54.3 103 54.3 73
F6.0 347.6 6.0 16~347 2~133 106~347 2~43 57.8 22.1 57.8 7.1
表示被检物的厚度为零时的数值。

各特别规格参照镜的测定可能范围（受注生产品）
*本社准备了2 英寸的特别规格参照镜，可用于较大曲率半径的测定。
*凹镜片测定用（发散型）样式有4 种，凸镜片测定用（集光型）样式有3 种。可供您随意选择。
KIF-202L （标准规格）样式时的测定可能范围（mm）

特别规格参照镜 KIF-202L（标准规格样式）
型号 最终R R/D 测定可能曲率半径 测定可能最大口径
干扰条纹扫描机组无 干扰条纹扫描机组有 干扰条纹扫描机组无 干扰条纹扫描机组有
凸 凹 凸 凹 凸 凹 凸 凹
RS60-C150 -150.3 1.93 - 160~464 - 160~370 - 200 - 191.7
RS60-C300 -300.1 4.62 - 310~626 - 310~530 - 135.4 - 114.7
RS60-C390 -389.3 6.03 - 400~715 - 400~620 - 118.5 - 102.8
RS60-C490 -482.9 7.54 - 495~806 - 495~711 - 106.8 - 94.2
RS60-V520 519.1 8.85 193~509 - 290~509 - 57.5 - 57.5 -
RS60-V670 664.1 11.56 338~654 - 433~654 - 56.5 - 56.5 -
RS60-V750 750.3 13.08 426~740 - 521~740 - 56.5 - 56.5 -
表示被检物的厚度为零时的数值。
KIF-202LL（长距离：150mm冲程延长规格）样式时的测定可能范围（mm）
特别规格参照镜 KIF-202LL（长距离：150mm 冲程延长规格）样式
型号 最终R R/D 测定可能曲率半径 测定可能最大口径
干扰条纹扫描机组无 干扰条纹扫描机组有 干扰条纹扫描机组无 干扰条纹扫描机组有
凸 凹 凸 凹 凸 凹 凸 凹
RS60-C150 -150.3 1.93 - 160~614 - 160~520 - 200 - 200

RS60-C300

 -300.1 4.62 - 310~776 - 310~680 - 167.9 - 147.1
RS60-C390 -389.3 6.03 - 400~865 - 400~770 - 143.4 - 127.6

RS60-C490

 -482.9 7.54 - 495~956 - 495~861 - 126.7 - 114.1
RS60-V520 519.1 8.85 43~509 - 140~509 - 57.5 - 57.5 -

RS60-V670

 664.1 11.56 188~654 - 283~654 - 56.5 - 56.5 -
RS60-V750 750.3 13.08 276~740 - 371~740 - 56.5 - 56.5 -
表示被检物的厚度为零时的数值。
注明：测定可能最大曲率半径以及测定可能最大口径，将会根据干涉仪的受台夹具等机械尺寸、被检镜片的大小以及减振板、线性卡尺等的安装而改变。但是归根结底因为目视，故不能保证。